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汽車信號(hào)裝置如何用氙燈老化試驗(yàn)箱做實(shí)驗(yàn)的
發(fā)布時(shí)間：2016-06-27
汽車信號(hào)裝置進(jìn)行光源輻照耐抗性試驗(yàn)(設(shè)備：氙燈老化試驗(yàn)箱)可以確定其塑料光學(xué)部件的性能及改進(jìn)現(xiàn)有材料。以下是具體試驗(yàn)步驟：一、試驗(yàn)前準(zhǔn)備：1.氙燈老化試驗(yàn)箱,光源的光譜能量分布相近與溫度介于5500K~6000K的黑體。2.準(zhǔn)備3塊新的塑料配光鏡或其材料試樣。二、試驗(yàn)方法：1.在氙燈老化試驗(yàn)箱內(nèi),與試樣處在同一水平位置上的黑板溫度為50°±5°2.光源與試樣之間應(yīng)放置相應(yīng)的濾光片,盡可能減少波長(zhǎng)小于295nm和大于2500nm的輻射的影響。3.試樣環(huán)繞光源以1r/min~5r/min的速度轉(zhuǎn)動(dòng)。
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PCT高壓加速壽命試驗(yàn)箱的安全保護(hù)裝置包括哪些？
發(fā)布時(shí)間：2016-06-23
PCT高壓加速壽命試驗(yàn)箱的安全保護(hù)裝置包括哪些？PCT高壓加速壽命試驗(yàn)箱是提高環(huán)境應(yīng)力與工作應(yīng)力施加給產(chǎn)品的電壓、負(fù)荷等，加快試驗(yàn)過(guò)程，縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗(yàn)時(shí)間。隨著半導(dǎo)體可靠性的提高，目前大多半導(dǎo)體器件能承受長(zhǎng)期的THB試驗(yàn)而不會(huì)產(chǎn)生失效，因此用來(lái)確定成品質(zhì)量的測(cè)試時(shí)間也相應(yīng)增加了許多。為了提高試驗(yàn)效率、減少試驗(yàn)時(shí)間，采用了新的壓力蒸煮鍋試驗(yàn)方法。用較少的時(shí)間就可完成對(duì)產(chǎn)品的濕度的測(cè)試。PCT高壓加速壽命試驗(yàn)箱的安全保護(hù)裝置包括：1、誤操作安全裝置：鍋門若未關(guān)緊則機(jī)器無(wú)法啟動(dòng)2、超壓安全保
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檢測(cè)教你恒溫恒濕試驗(yàn)機(jī)查漏補(bǔ)缺
發(fā)布時(shí)間：2016-06-20
電子產(chǎn)品：手機(jī),電腦,,手表,空調(diào),電燈等等在我們周圍隨處可見(jiàn),而這些產(chǎn)品無(wú)一不需要做高溫低溫的可靠性試驗(yàn)。恒溫恒濕試驗(yàn)機(jī)就顯得*了,溫濕度試驗(yàn)箱都可外開(kāi)一個(gè)測(cè)試孔做引線使用。比如手機(jī),我們要測(cè)試它在高溫或是低溫情況下能否正常開(kāi)機(jī)通話。對(duì)于這類需帶電測(cè)試的產(chǎn)品,需跟廠家提前說(shuō)明,可以在機(jī)器側(cè)面開(kāi)一個(gè)測(cè)試引線孔,做通電測(cè)試使用。測(cè)試引線孔是經(jīng)過(guò)特殊結(jié)構(gòu)處理的,且用特制過(guò)線孔塞塞住,對(duì)箱體的密封性和保溫性也不會(huì)有太大影響。測(cè)試引線孔一般有直徑25mm、50mm、80mm和100mm的。恒溫恒濕試驗(yàn)機(jī)
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在使用冷熱沖擊測(cè)試箱需要小心謹(jǐn)慎
發(fā)布時(shí)間：2016-06-07
冷熱沖擊測(cè)試箱作為一款有技術(shù)含量的儀器,對(duì)它進(jìn)行操作肯定也是有著一定的規(guī)定的。但是同時(shí)使用該設(shè)備的如果是新手,那么可能會(huì)在一些地方?jīng)]有小心和謹(jǐn)慎,而給自己和儀器造成了一些損害。A.肯定會(huì)有很多使用者會(huì)在試驗(yàn)中打開(kāi)照明燈來(lái)觀察試驗(yàn)進(jìn)行的怎么樣了,但是要注意不能打開(kāi)照明燈的時(shí)間過(guò)長(zhǎng)和過(guò)于頻繁,因?yàn)檎彰鳠粢彩怯兄鵁崃康?時(shí)間過(guò)長(zhǎng)和過(guò)度的打開(kāi)會(huì)給溫度的控制造成影響。B.冷熱沖擊測(cè)試箱在進(jìn)行試驗(yàn)的時(shí)候,除非一定要打開(kāi)箱門,否則不能隨意的打開(kāi)箱門。會(huì)造成溫度氣流向外沖出,不僅會(huì)對(duì)試驗(yàn)的結(jié)果造成影響。更甚者使
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pct高壓加速老化試驗(yàn)箱LED光源衰退的原因分析
發(fā)布時(shí)間：2016-06-02
pct高壓加速老化試驗(yàn)箱LED光源衰退的原因分析pct高壓加速老化試驗(yàn)箱是測(cè)驗(yàn)半導(dǎo)體封裝之濕氣才能，待測(cè)商品被置于苛刻之溫度、濕度及壓力下測(cè)驗(yàn)，濕氣會(huì)沿者膠體或膠體與導(dǎo)線架之接口進(jìn)入封裝體，多見(jiàn)之毛病方法為自動(dòng)金屬化區(qū)域腐蝕形成之?dāng)嗦罚蚍庋b體引腳間因污染形成短路等。LED具有低電壓、低能耗、長(zhǎng)壽數(shù)、高可靠性、易保護(hù)等長(zhǎng)處,已變成照明職業(yè)的干流。盡管LED光源已逐漸替代別的光源變成照明職業(yè)的干流，但其壽數(shù)及其可靠性仍有待進(jìn)步，這已變成現(xiàn)階段的研討要點(diǎn)。LED光源可靠性一般采納pct高壓加速老化試
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冷熱沖擊試驗(yàn)箱設(shè)計(jì)
發(fā)布時(shí)間：2016-05-31
冷熱沖擊試驗(yàn)箱是由箱體、風(fēng)循環(huán)系統(tǒng)、制冷系統(tǒng)、加溫系統(tǒng)和控溫系統(tǒng)組成。風(fēng)循環(huán)系統(tǒng)一般采用可調(diào)節(jié)送風(fēng)方向的結(jié)構(gòu);加熱系統(tǒng)采用電熱鰭片加熱和電爐絲直接加熱二種結(jié)構(gòu);溫濕度測(cè)試方法采用干濕球測(cè)試方法,也有用濕度傳感器直接測(cè)量方法;加濕系統(tǒng)有采用鍋爐加濕的和表面蒸發(fā)二種;降溫、去濕系統(tǒng)采用空調(diào)工況制冷結(jié)構(gòu);控制和顯示操作界面采用溫濕度分開(kāi)獨(dú)立和溫濕度組合控制器等方式。1.冷熱沖擊試驗(yàn)箱分為高溫箱,低溫箱兩部分,采*之?dāng)酂峤Y(jié)構(gòu)及蓄熱蓄冷效果,試驗(yàn)時(shí)待測(cè)物通過(guò)吊籃在冷熱箱中上下移動(dòng),以達(dá)到冷熱沖擊測(cè)試目的;
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淺析uv紫外光老化箱的接線該注意的地方
發(fā)布時(shí)間：2016-05-25
我們都知道,電在人類生活中的作用很大,但是處理不當(dāng)?shù)脑捨：σ彩呛艽蟮?所以我們?cè)谑褂胾v紫外光老化箱時(shí)應(yīng)該格外注意它的接線的問(wèn)題。那么具體的應(yīng)該注意些什么呢?如下：1、不得將地線接到電源的中性線上;2、不得將uv紫外光老化箱接地線接在氣管或水管上;3、uv紫外光老化箱電源裝配時(shí),必須由專業(yè)電工進(jìn)行操作;4、請(qǐng)確認(rèn)uv紫外光老化箱總開(kāi)關(guān)的電容量是否符合設(shè)備要求;5、不要將該設(shè)備的電源與其他設(shè)備共用,防止開(kāi)關(guān)過(guò)載導(dǎo)致試驗(yàn)失效;6、uv紫外光老化箱在安裝時(shí)箱體外殼必須接地,如果試驗(yàn)箱沒(méi)有接地,一旦漏電
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